简体中文
产品 About us
产品名称: F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪
上市日期:2018-03-13

        高纯锗探测器拥有精锐的能量分辨率。由其组成的γ 和X 射线能谱测量技术和产品,不仅是原子核结构、分子物理、原子碰撞等核物理与核反应研究的重要工具,而且在核电、环保、检验检疫、生物医学、天体物理与化学、地质、法学、考古学、冶金和材料科学等诸多学科与社会领域得到了越来越广的应用。


产品描述:
  • 功能特征
  • 规格参数

Angle V3.0 实验室无源效率刻度软件

      AngleV3.0 是一款应用于实验室高纯锗γ 谱仪的无源效率刻度软件。

      其原理是基于对每套实验室谱仪,以点源/ 体源/ 面源/ 马林杯样品源之中的任一系列标准源的完整效率曲线为基准,结合绝对算法(Monte Carlo)与相对算法,由无数实验室修正,以“效率转换”方法推演其他形式样品的效率刻度曲线。软件具有完整的记忆存档功能,当某一个条件发生变化时,用户可以调取以前的刻度文件,改变相应变化的参数重新进行刻度。

       软件精度:测量误差除方法本身之外,还取决于刻度效率曲线所用点源本身的误差和各项参数的准确性,误差水平在3%~ 4% 左右。

       方法的可溯源性:如基准效率曲线所用的刻度源为可溯源,则此方法下获得的测量结果亦可溯源。具体探测器或系统在出厂时工厂提供点源效率刻度曲线。

F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪

DSPEC 系列数字化谱仪

F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪

特 点

● 使用计算机进行控制和参数设置;

● 数据通过率高:> 100kcps;

● 多种数据处理与能谱稳定功能;

● 可预置多种核素的MDA,在所有MDA 自动终止计数;

● 背板配置统一接口,强调兼容性;

F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪

GammaVision γ 能谱分析软件

F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪

集硬件控制、谱获取与分析、报告与质量保证功能于一体。具有多路谱图同步获取功能-MDI(Multiple Detector Interface)。与Windows、Windows XP 等软件良好兼容。包含四种分析引擎:

● WAN32:GammaVision 原始分析引擎,采用库引导的寻峰,用于一般应用及分析研究型谱数据。

● GAM32:Mariscotti 法寻峰,并对核素库进行“预过滤”,以减少环境样品测量的正向偏差。

● NPP-32:用于裂变产物复杂谱图的分析。

● ENV32: 用于环境水平样品的分析,Mariscotti 法寻峰,同时产生活度与MDA 报告。


传统高纯锗(HPGe)探测器

● GEM 系列:P 型同轴高纯锗探测器

F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪

标准形制“宽能”高纯锗探测器

性能指标上综合了传统GEM 与GMX 探测器的优势。能量下限降至3keV、分辨率优异。中低能段效率显著提升GEM-S 和GEM-C 系列采用超薄可靠接触极,GEM-SP 系列采用点接触极。在常温下保存不会损害探测器性能严格保证效率、分辨率、峰型与峰康比等完整指标。


标准形制同轴探测器

所应用(测量)中不关注低能射线。ORTEC 提供基于传统GEM 工艺、但以晶体尺寸定义型号的探测器。

GEM-F 系列:短同轴探测器(适合滤纸/ 滤膜等扁平样品)

F11 ORTEC 高纯锗γ 能谱仪


010-8802 6823 北京市东城区北三环东路36号环球贸易中心A座901 关注微信公众号
Copyright ©2018 - 2021 卡迪诺科技北京有限公司
犀牛云提供企业云服务
犀牛云提供云计算服务