本系统采用电阻加热方式,可测读国产、进口的各类型片状、杆状、粉末状的探测元件。读出器由串口连接PC,WinREMs 操作软件提供先进完善的剂量算法、发光曲线分析、加热方式设定、时间温度控制、维护和数据记录功能。仪器只有一个操作按钮及三个指示灯,操作简单。
特点
●金属盘,热电耦加热,可达600℃;
●根据选择的剂量元件的形状,选择合适的样品盘;
●充氮气,均匀加热样品,降低假性号;
●剂量算法满足 DOELAP 和 NVLAP 认证要求。
技术参数
● 读数周期:标准TTP,每片阅读时间20s;
● 参考光源稳定性:一定温度下,连续10次读数的偏差<0.5%;
● 升温曲线重复性:±1℃;
● 稳定性:连续读10次,标准偏差小于1.0μGy(TLD700);
● 暗电流:相对小于50μGy(137Cs,TLD700);
● 高压稳定性:±0.005%/h,0.02%/8h;
● 最高加热温度:400℃(普通热电耦),600℃(特殊热电耦)。
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